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半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination
GB/T 43035-2023现行国家标准
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基础信息
标准号
GB/T 43035-2023
标准状态
现行
发布日期
2023-09-07
实施日期
2023-09-07
中国标准分类号
L57
国际标准分类号
31.200
主管部门
工业和信息化部（电子）
发布部门
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
技术归口
工业和信息化部（电子）
标准简介
本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（FICs和HFICs，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。 通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。
内容预览
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