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微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
GB/T 43087-2023现行国家标准
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PDF · 43 页 · 12.06MB
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基础信息
标准号
GB/T 43087-2023
标准状态
现行
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-04-01
中国标准分类号
N33
国际标准分类号
71.040.50
主管部门
国家标准委
发布部门
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
技术归口
国家标准委
标准简介
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。 本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。 本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界而位置。
内容预览
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