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元器件位移损伤试验方法
Displacement damage test method for components
GB/T 42969-2023现行国家标准
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PDF · 9 页 · 1.31MB
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基础信息
标准号
GB/T 42969-2023
标准状态
现行
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
主管部门
工业和信息化部（电子）
发布部门
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
技术归口
工业和信息化部（电子）
标准简介
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。 本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD)、光电A合器、图像敏感器（APS)，光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
内容预览
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