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表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准

Surface chemical analysis—Scanning probe microscopy—Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems

GB/T 42659-2023现行国家标准

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GB/T 42659-2023 · 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量:测量系统校准

基础信息

标准号

GB/T 42659-2023

标准状态

现行

发布日期

2023-08-06

实施日期

2024-03-01

中国标准分类号

G04

国际标准分类号

71.040.40

主管部门

中国科学院

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口

中国科学院

标准简介

本文件描述了用于最高等级几何量测量的扫描探针显微镜(SPM)扫描轴的表征和校准方法,适用于提供进一步校准的测量系统,而不适用于校准等级需求较低的一般工业应用。

内容预览

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