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金属氧化物半导体气敏元件测试方法

Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

GB/T 15653-1995现行国家标准

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GB/T 15653-1995 · 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

基础信息

标准号

GB/T 15653-1995

标准状态

现行

发布日期

1995-07-24

实施日期

1996-04-01

中国标准分类号

L15

国际标准分类号

31.020

主管部门

工业和信息化部(电子)

发布部门

国家技术监督局

技术归口

工业和信息化部(电子)

标准简介

本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件(以下简称元件)性能参数测试方法的基本原理,没有规定这些方法在实际使用时的技术细节,测试时可按相应的详细规范的规定进行。 本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试,其他气敏元件亦可参照使用。

内容预览

GB/T 15653-1995 标准预览GB/T 15653-1995 标准预览GB/T 15653-1995 标准预览GB/T 15653-1995 标准预览
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