标准详情
晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量
Crystalline silicon photovoltaic(PV) array--On-site measurement of I-V characteristics
GB/T 18210-2000已废止国家标准
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基础信息
标准号
GB/T 18210-2000
标准状态
已废止
发布日期
2000-10-17
实施日期
2001-05-01
中国标准分类号
K83
国际标准分类号
27.160
主管部门
工业和信息化部（电子）
发布部门
国家质量技术监督局
技术归口
工业和信息化部（电子）
标准简介
本标准描述晶体硅光伏方阵特性的现场测量及将测得的数据外推到标准测试条件（STC）或其他选定的温度和辐照度条件下的程序。 光伏方阵在实际现场条件下的I-V特性测量及其验收测试条件（ATC）下的外推值，能够提供（参见附录A和IECQ QC001002）： a)功率额定值的数据； b)验证已安装的方阵功率性能是否符合设计规范； c)检测现场组件特性与实验室或工厂测量之间的差异； d)检测组件和方阵相对于现场初期数据的性能衰降。 对于某一个组件，现场测量经外推到标准测试
内容预览
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