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空间环境 宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法
Space environment—Method of single event upset rates prediction of semiconductor devices for space applications
GB/T 44181-2024现行国家标准
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PDF · 15 页 · 5.8MB
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基础信息
标准号
GB/T 44181-2024
标准状态
现行
发布日期
2024-07-24
实施日期
2024-07-24
中国标准分类号
V06
国际标准分类号
49.020
主管部门
中国科学院
发布部门
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
技术归口
中国科学院
标准简介
本文件描述了开展宇航用半导体器件（以下简称“器件”）在轨单粒子翻转率预计的方法，包括原理、流程、空间带电粒子LET谱和质子能谱计算、辐照试验数据处理分析和单粒子翻转率预计等。 本文件适用于空间自然辐射环境中的质子和重离子引发器件单粒子翻转率的预计。单粒子功能中断等其他类型单粒子事件率预计参考使用。本文件不适用于高能电子引发的单粒子翻转率的预计。
内容预览
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