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锗单晶电阻率直流四探针测量方法
Germanium monocrystal-measurement of resistivity-DC linear four-point probe
GB/T 26074-2010现行国家标准
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基础信息
标准号
GB/T 26074-2010
标准状态
现行
发布日期
2011-01-10
实施日期
2011-10-01
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040.99
主管部门
国家标准委
发布部门
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
技术归口
国家标准委
标准简介
本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。 本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻串以及测量直径大于探针间距的1O倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。测量范围为1×10-3Ω·m～l×lO2Ω·cm。
内容预览
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