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半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检

Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination

GB/T 4937.3-2012现行国家标准

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GB/T 4937.3-2012 · 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检

基础信息

标准号

GB/T 4937.3-2012

标准状态

现行

发布日期

2012-11-05

实施日期

2013-02-15

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

主管部门

工业和信息化部(电子)

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

工业和信息化部(电子)

标准简介

GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。

内容预览

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