标准详情
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
GB/T 14620-2013现行国家标准
下载标准电子版
PDF · 13 页 · 435.47KB
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基础信息
标准号
GB/T 14620-2013
标准状态
现行
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
中国标准分类号
L90
国际标准分类号
31.030
主管部门
工业和信息化部（电子）
发布部门
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
技术归口
工业和信息化部（电子）
标准简介
本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”）的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。
内容预览
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