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半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
GB/T 4937.13-2018现行国家标准
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基础信息
标准号
GB/T 4937.13-2018
标准状态
现行
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
中国标准分类号
L40
国际标准分类号
31.080.01
主管部门
工业和信息化部（电子）
发布部门
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
技术归口
工业和信息化部（电子）
标准简介
GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法，以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。 本试验是破坏性试验。 本试验总体上符合IEC 60068-2-11，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
内容预览
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