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钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法

SJ/T 11207-1999现行行业标准

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SJ/T 11207-1999 · 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法

基础信息

标准号

SJ/T 11207-1999

标准状态

现行

发布日期

1999-08-26

实施日期

1999-12-01

中国标准分类号

L19

国际标准分类号

29.100.10

主管部门

信息产业部

发布部门

信息产业部

标准简介

本标准规定了频率为10 GHz下的钇铁石榴石(YIG)单晶磁性薄膜材料的铁磁共振线宽△H、立方磁各向异性常数K|(1)、单轴磁各向异性常数K|(u)、旋磁比y和饱和磁化强度M|(2)的测量方法。 本标准适用于液相外延生长的具有立方晶体结构的单晶铁氧体薄膜材料的测量。

内容预览

SJ/T 11207-1999 标准预览SJ/T 11207-1999 标准预览SJ/T 11207-1999 标准预览SJ/T 11207-1999 标准预览
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