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石英晶体元件参数的测量 第6部分 激励电平相关性(DLD)的测量

SJ/T 11212-1999现行行业标准

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SJ/T 11212-1999 · 石英晶体元件参数的测量 第6部分 激励电平相关性(DLD)的测量

基础信息

标准号

SJ/T 11212-1999

标准状态

现行

发布日期

1999-08-26

实施日期

1999-12-01

中国标准分类号

L21

国际标准分类号

31.020

主管部门

信息产业部

发布部门

信息产业部

标准简介

本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A,以SJ/Z 9154.1-1987的π型网络为基础,适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B,是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。

内容预览

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