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俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

SJ/T 10458-1993现行行业标准

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SJ/T 10458-1993 · 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则

基础信息

标准号

SJ/T 10458-1993

标准状态

现行

发布日期

1993-12-17

实施日期

1994-06-01

中国标准分类号

A42

国际标准分类号

31.020

主管部门

电子工业部

发布部门

电子工业部

标准简介

本标准导则适用于俄歇电子能谱术(AES)和X射线光电子能谱术(XPS),也适用于其他表面灵敏分析技术。 本标准导则可能涉及有害的操作、设备及物质,但没有说明所有相关的安全问题。使用者在使用本导则前,应该制定适当的安全与保健措施,并确定本导则的应用范围。

内容预览

SJ/T 10458-1993 标准预览SJ/T 10458-1993 标准预览SJ/T 10458-1993 标准预览SJ/T 10458-1993 标准预览
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