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电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分:忽略样品处理影响的计数测量

EJ/T 1204.1-2006现行行业标准

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EJ/T 1204.1-2006 · 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分:忽略样品处理影响的计数测量

基础信息

标准号

EJ/T 1204.1-2006

标准状态

现行

发布日期

2006-12-15

实施日期

2007-05-01

中国标准分类号

Z33

国际标准分类号

27.120

主管部门

国防科学技术工业委员会

发布部门

国防科学技术工业委员会

技术归口

核工业标准化研究所

标准简介

本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值,用以评估忽略样品处理影响的电离辐射测量中的探测能力。本部分适用于忽略样品处理影响的计数测量。

内容预览

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