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颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法

Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy

T/CSP 13-2024现行团体标准

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T/CSP 13-2024 · 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法

基础信息

标准号

T/CSP 13-2024

标准状态

现行

发布日期

2024-11-18

实施日期

2024-11-25

国际标准分类号

17.020

主管部门

中国颗粒学会

标准简介

本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法,包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。 本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品,包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。

内容预览

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标准号标准名称状态发布日期实施日期
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