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微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
GB/T 38532-2020现行国家标准
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基础信息
标准号
GB/T 38532-2020
标准状态
现行
发布日期
2020-03-06
实施日期
2021-02-01
中国标准分类号
G04
国际标准分类号
71.040.40
主管部门
国家标准委
技术归口
国家标准委
标准简介
本标准规定了用电子背散射衍射法（EBSD）对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求。 注1：使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。 注2：该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。 注3：对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。
内容预览
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