摄影反射密度测量的几何条件

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标准简介

GB/T 12822-1991.Geormetric conditlons for photographic reflection density measurement. 4.2采样孔 仪器的光学系统的几何状态确定了试样的测量区域,这一确定的区域称为采样孔。采样孔应由探测器所探测的角度范围来确定。如果在试样平面上放置-一个机械孔,则其面积应大于采样孔,它的边界至少应位于采样孔边界2 mm之外的位置。 探测器对采样孔内每--点的响应度应该相同,而且对采样孔之外点的响应度为零。可通过一一个小而稳定的辐射源放在采样孔及其周園的不同点上,测量探测器的响应度变化。该光源的面积应等于采样孔面积的1/10。 当光源位于采样孔内的任-一点上时,探測器的响应度都不应小于最大值的90%,当光源位于采样孔周围的任一点时,探测器的响应度应不大于光源位于采样孔内最大值的0.1%。 采样孔的最大尺寸取决于测量反射因数或反射密度所用探测器的光学系统的尺寸。只要采样孔内每一点都满足4.4和4.5条中规定的条件,可以采用任何尺寸的采样孔。但是它不能小到不得不考虑粒度、试样表面结构和衍射效应的程度。对于均匀性不好的试样,应该规定采样孔的尺寸(由生产和应用部门自定)。 4.3照射面积 试样被照射的面积应该大于采样孔径,而且它的边界应至少位于采样孔边界2mm之外。最理想的情况,在被照射面积上的照度应是均匀的。由一个光电探测器测量该照度的均匀性,要求探测器的孔径形状与采样孔相似，而尺寸为采样孔的1/4。 在被照射面积上任意一点上的照度至少应为最大值的90%。 4.4环状发布 入射光束辐亮度的角分布或者探测器响应度的角分布应在与采样孔中心的法线夹45°角时取最大值,而在与该法线的夹角小于40°或者大于50°的圆上任何- .点的值应小到可以忽略的程度。应采用GB/T12823--91中5.2条规定的函数表示法表示入射通量的环状分布。 用下列方法可以测量探测器响应度的角分布:一个小孔光栏放置在试样平面上,在给定距离上用一个尺寸合适的稳定光源照射，移动光源改变探测器的照明角,并记下相应的响应值。 对于模拟纤维表面结构而模压成型的材料，如果环状照射或者环状探测沿方位角不均匀时，则测得的密度值与试样表面结构方位角的取向有关。若将试样在其自身平面(X-Y平面)内绕z轴旋转,如果

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