首饰金银覆盖层厚度的测定方法X射线荧光光谱法

基础信息

标准简介

QB/T 1135-1991. QB/T 1135参照采用国际标准ISO3497:1976(E)。 1主题内容与适用范围 QB/T 1135规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金属覆盖层厚度的方法。 QB/T 1135适用于首饰及其他工艺品中金.银等覆盖层厚度的测定(覆盖层与基体为非相同材质)。 2方法提要及原理采用X射线荧光光谱法测量金属覆盖层厚度是通过X射线荧光的产生检测和分析而确定覆盖层厚度的。每种元素的原子都具有其本身独有的电子排列,对于给定的特征X射线,其能量取决于该原子的原子序数,因此,不同的材料将产生不同能量的X射线荧光。通过X射线荧光测厚仪对不同材料发出.的X射线荧光进行能量分辨和强度的检测，可以确定材料的特性,从而测定覆置层的厚度。 3仪器和设备 3.1 X射线荧光测厚仪:-套(带自动打印机)。 3.2 包括各镀种的标准样块:一套。 3.3仪器自检的 参照标样:一块。 4仪器的校准 校准是测量样品的先决条件,校准的目的是使被测样品覆蓋层的厚度对发射x射线荧光的强度值之间建立准确的关系。 4.1 校准模式的选择 各类型的X射线荧光测厚仪都具有若干种校准模式，应按覆盖层和基材的类型选用适当的校准模式。 4.2 校准模式的输入 选定相应的校准模式后,将采用相应的存储器按规程输人校准模式。当采用标准进行校准时，应采用与测试样品完全-致的条件(包括检测孔尺寸,相同覆盖层和基体材料及测量时间等).在校准程序结柬时,将自动进人测试模式。 5影响精 度的因素 5.1计数统计 由于x射线光子的产生是在随机情况下进行的,因而在-固定时间内发射的光子数量不一定相同,所有放射性测量中都会出现统计误差。这-统计误差与计数时间的长短有关。 5.2测量时间.

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