红外辐射加热器光谱法向发射率测量方法

基础信息

标准简介

GB 7287.10-1987.Measuring method for normal spectral emittence of i nfrared heater. 2.2.8 辐射测温仪，精度不低于土1 %。 注:记录部分也可由A/D转换器、微型计算机及绘图仪组成的记录系统代替，系统精度不低于士2%。 2.3参比徐料 2.3.1参比涂料应具有下列性质: a.化学性质稳定，在测试温度范围内涂覆于各种加热器表面均不发生化学变化; b.当 厚度不小于0.2m m时，至少对2. 5~ 15μm的红外辐射不透明; c.光谱法向发 射率在测试温度范围内的平均温度变化率小于0.03x 10-2/K ; d. 全法向发射率大于0.8， 光谱辐射特性近似灰体。 2.3.2所给参比涂料在测试温度范围内的光谱法向发射率数据，其精度应不低于士4 %。 3测量条件 3.1 环境温度20土5 C。 3.2相对湿度不大于75%。 3.3测量应在防尘防霞的实验室中进行。 4测量步骤 4.1对待测试样施加额定工作电压，待温度稳定后，用辐射测温仪测定试样表面温度分布，并确定其期心部位的等温区以及等温区的工作温度，然后断电冷却至室温。 4.2 将试样固定在试样支架上，调整光学系统达到下列要求: 4.2.1探测器光敏面与调制盘平面，光栏平面，试样辐射面及单色仪入射狭缝平面相互平行且共轴; 4.2.2光学 系统所决定的试样待测面积相对于探测器可作“点源”近似，且位于 等温区内并小于筹温区面积。 4.3将控温仪热电偶焊接或粘接于待测面附近(在等温区内)。用控温仪将待测表面温度控制在其工作温度。待温度稳定后，开启单色仪的扫描装置，使之在2.5~ 15μm波长范围内进行连续扫描，同时使记录仪的走纸机构与之同步，测出放大系统输出的试样与调制盘差分光谱信号电压U。随鈹长变化的关系曲线。 4.4关闭控温仪， 试样冷却至室温后，在等温区内均匀徐覆参比涂料，涂覆厚度为o. 2mm,徐覆方法与获取其发射率数据的原测量方法中的一致。然后开启控温仪(设定温度与4. 3条相同)。温度稳定后，按4. 3条的方法测出放大系统输出的参比徐料与调制盘差分光谱信号电压U.随波长变化的关系曲线。 4.5.移开试样，测量放大系统输出的背景与调制盘差分光谱信号电BEUw,随波长变化的关系曲线(方法同4.3条)。 4.6用辐 射测温仪测量等温区的表观工作温度T,。 5测量结果计篁

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