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半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
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基础信息
标准号
SJ/T 10818-1996
标准状态
现行
发布日期
2022-10-18
实施日期
2022-10-18
标准简介
SJ/T 10818-1996.Gene ral pri nciples of measuring me thods of D/A and A/D converters for se miconduc tornon- linear integrated circuits. SJ/T 10818规定了具有线性转换特性的集成数字/模拟转换器(以下简称DAC)和模拟/数字转换器(以下简称ADC)主要静态特性测试方法的基本原理。 凡与数字集成电路有相同定义的电特性，其测试方法的基本原理按下列标准的有关规定: GB 3439- -82《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》; GB 3441- -82《半导体集成电路E CL电路测试方法的基本原理》; GB 3834- -83《半导体集成电路C MOS电路测试方法的基本原理》。 凡与模拟集成电路有相同定义的电特性，其测试方法的基本原理按GB 3442-82 《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》的有关规定。 若无特殊说明，本标准涉及的逻辑均为正逻辑。 1总的要求 1.1若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。 1.2测试期间应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。 1.3被测DAC 和A DC与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件。 1.4测试期间应不出现自激现象。 1.5测试电流输出的DAC时，应外加运算放大器。 1.8测试双极型DAC 和A DC时，应按采用的码制调整数码。 1.7测试期间应避免因静电感应而引起被测DAC和ADC失效。. 2 DAC的特性测试 2.1 失调E。 2.1.1 定义 模拟输出电压的实际起始值与理想起始值之偏差。 2.1.2 测试原理图 E.的测试原理图如图1所示。
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