低副瓣平板裂缝天线性能远场测试方法

基础信息

标准简介

SJ 20348-1993.Methods of far-field measurement for planar waveguide-fed slot arrays with low sidelobes. 1范围 1.1主题内容 SJ 20348规定了在天线测试场内,对低副瓣平板裂缝天线(以下简称为天线)的方向图、增益等性能远场测试方法。 1.2适用范围 本标准适用于副瓣电平优于-25dB的线极化平板裂縫天线的性能远场测试,对由非波导 裂缝的其它辐射单元所组成的,具有一般副瓣电平、低副瓣电平的线极化平面阵列天线性能远场测试亦可参照使用。 2引用文件 SJ 2534.4-85天线测试方法 天线测试场的 鉴定; SJ 20347-93机载火控雷达天线单元通用技术要求和测试方法 3定义 3.1远场测试(见 SJ 20347第3.24条) 3.2低副瓣天线(见 SJ 20347第3.10条) 3.3固定瞄准线形式constant boresight form 在远场测试中,源天线位置固定不动,被测天线围绕者被测天线阵面几何对称中心的轴线旋转的测试形式。 3.4方向图(见SJ 20347第3.2条) 3.5主平面方向图(见SJ 20347第3.3条) 3.6副瓣电平(见 SJ 20347第3.9条) 3.7远区副瓣sidelobe far form the main-lobe 和方向图中,在离主瓣较远的指定角度范围内的副瓣。也可称为宽角副瓣。 3.8平均副瓣电平mean sidelobe level 方向图中,主瓣以外的基它波瓣能量相对于主瓣能量在规定角度范围内的平均值。 3.9差主瓣宽度difference beam width 两个差主瓣外侧,功率电平值等于较高差主瓣功率电平一半的两个方向间的夹角。 规定了在天线测试场内,对低副瓣平板裂缝天线(以下简称为天线)的方向图、增益等性能远场测试方法。

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