红外探测器用碲锡铅晶片规范

基础信息

标准简介

SJ 20437-1994.Specification for lead tin telluride slice for use in infrared detector. 1范围 1.1 主题内容 SJ 20437规定了红外探测器用碲锡铅(Pb1xSn,Te)单晶片(以下简称“单晶片”)的技术婴求、检验方法和交验规则,以及包装运输要求。 1.2适用范围 SJ 20437适用于红外探测器用碲锡铅外延膜生长用衬底单晶片的鉴定、交验的评定和验收。 1.3 分类 产品型号按GB11296《红外探测材料命名方法》规定,在第四部分分隔号后注明碲锡铅单晶片的组分配比(X值)即PST-0.21。 2引用文件 GB 11296- -89红外探测材料型 号命名方法 GJB 179-86计数抽样检查程序及表 SJ 20438- -94红外探测器用碲锡铅晶片测试方法 ZBN 30003光学零件包装 3要求 3.1合格鉴定 按本规范提交的产品应是经鉴定检验合格的产品。 3.2 性能特性 3.2.1单晶片的外形尺寸和外观质量要求 a.单晶片的厚度t≤1.5mm,面积s≥10mm X 15mm; b.单晶片表面应色泽均匀,无低角晶界和肉眼可见的裂纹。 3.2.2单晶片的晶面为(100)面,定向精度≤1°. 3.2.3单晶 片的组分为X =0r 210士0.010. 3.2.4单晶片(100)晶面的位错腐蚀密度EPD≤8X10*/cm*. 3.2.5单晶片的导电类型为P 型,载流子浓度P≤2X10*/cm',翟尔迁移率阳≥2X10*cm*/V●s。

内容预览

相关标准