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碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法

T/CASAS 026-2023现行团体标准

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T/CASAS 026-2023 · 碳化硅少数载流子寿命测定微波光电导衰减法

基础信息

标准号

T/CASAS 026-2023

标准状态

现行

发布日期

2023-06-19

实施日期

2023-06-19

中国标准分类号

H80/84

国际标准分类号

31.030

主管部门

北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

标准简介

本文件描述了用微波光电导法测定碳化硅少数载流子寿命的方法。 本文件适用于少数载流子寿命为 20 ns~200 μs 的碳化硅晶片的寿命测定及质量评价。

内容预览

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